深圳电子展
2024年11月6-8日
深圳国际会展中心(宝安新馆)

SiP及半导体封测展|点亮IGBT封装未来:挑战、创新与市场机遇的碰撞

 

IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,缘栅双晶体管)功率模块是一种高性能的电力电子器件,广泛应用于交流驱动、太阳能逆变器、电动汽车等领域。然而,在IGBT功率模块的封装过程中,仍然存在一些技术难题和挑战。本文将探讨IGBT功率模块封装在热管理、可靠性、功率密度和成本等方面面临的主要问题。今天就由SiP及半导体封测展小编为你解读更多行业新趋势。

 

一、热管理问题

 

1、热阻问题

 

IGBT功率模块在工作过程中会产生大量热量,尤其是在高功率和高温环境下。如果热量不能有效地传递和散发,将导致模块内部温度升高,进而影响器件性能和可靠性。热阻是衡量热量传递效果的重要参数,IGBT功率模块的热阻越低,散热效果越好。因此,降低热阻是IGBT功率模块封装的重要挑战。

 

2、热循环问题

 

由于IGBT功率模块在工作过程中会经历多次开关过程,导致模块内部温度发生周期性变化。这种热循环会导致模块内部材料的热应力累积,进而引发疲劳损伤和失效。如何提高IGBT功率模块在热循环条件下的稳定性和可靠性,是封装技术面临的关键问题。

 

二、可靠性问题

 

1、耐压问题

 

IGBT功率模块在高压环境下工作,其封装结构需要具备足够的电气缘性能。然而,随着器件体积的减小和功率密度的提高,缘距离和缘材料的厚度也相应减小。这将增加电气击穿的风险,影响器件的可靠性。因此,如何在保证足够缘性能的同时实现封装结构的紧凑化,是IGBT功率模块封装面临的技术挑战。

 

2、力学问题

 

在IGBT功率模块的封装过程中,模块内部的多种材料会产生不同程度的热膨胀和收缩。由于材料之间的热膨胀系数存在差异,这将导致封装内部产生热应力。长时间的热循环和热应力累积可能导致封装结构的疲劳损伤,甚至引发封装失效。因此,如何解决IGBT功率模块封装中的力学问题,提高封装的可靠性和稳定性,是亟待解决的技术难题。

 

三、功率密度问题

 

随着电子产品的高性能化和微型化发展,对IGBT功率模块的功率密度要求不断提高。然而,功率密度的提高将加大封装内部的热量产生和热量传递的压力。此外,高功率密度还会增加模块内部电场的集中程度,可能导致局部电气击穿和介质损伤。因此,在提高IGBT功率模块的功率密度的同时,如何保证其热管理和可靠性,是封装技术需要克服的重要难题。

 

四、成本问题

 

随着市场竞争的加剧,降低IGBT功率模块的生产成本成为行业的迫切需求。然而,在解决封装的热管理、可靠性和功率密度等问题的过程中,可能需要采用先进的封装材料、设计和工艺,这将增加生产成本。因此,如何在保证封装性能的同时降低成本,是IGBT功率模块封装技术需要平衡的关键问题。

 

五、总结

 

总之,IGBT功率模块封装在热管理、可靠性、功率密度和成本等方面面临着诸多挑战。要克服这些问题,需要开发新型封装材料、优化封装结构设计、引入先进的封装工艺以及实现封装与系统的协同优化。通过不断的技术创新和研发投入,有望实现IGBT功率模块封装性能的全面提升,为电力电子领域的快速发展提供坚实的技术支撑。

 

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文章来源:真空回流焊中科同志