深圳电子展
2026年10月27-29日
深圳国际会展中心(宝安)

电子展|2.5D/3D先进封装:从平面互连到立体集成的产业跃迁 

半导体产业有一条延续了半个世纪的"信仰":把晶体管做小,性能就会变强,成本就会变低。这就是摩尔定律。但当制程推进到3nm、2nm,当一座晶圆厂的投资突破百亿美元,当一颗芯片的设计成本动辄数亿美元——这条信仰的经济基础正在崩塌。更棘手的是物理层面:量子隧穿、漏电、散热,每一个都在逼近材料的边界。于是产业界开始思考一个更本质的问题:既然平面上的路快走到头,为什么不向上要空间?这就是2.5D/3D先进封装兴起的底层逻辑。它不追求把单颗芯片做得更小,而是追求把多颗芯片在三维空间中高密度地"堆"起来、"连"起来——用封装的维度革命,延续算力的增长曲线。下面就跟电子展小编一起来了解下2.5D/3D先进封装:从平面互连到立体集成的产业跃迁。

一、 电子展浅谈维度跃迁:一场"空间换性能"的产业共识

要理解2.5D与3D封装,先要理解它们解决的是什么问题。

在传统封装中,芯片是"平铺"的——一颗die放在基板上,通过引线或焊球连接到外部。随着芯片功能越来越复杂,单颗die的面积越来越大,良率却越来越低(面积越大,存在缺陷的概率越高),成本呈指数上升。同时,芯片之间的信号要走很长的路径,带宽受限、延迟增加、功耗上升。

2.5D与3D封装给出的解法,是把"平面铺开"变成"立体集成":

2.5D:多颗芯片并排放置在一个"中介层"上,通过中介层内部的高密度布线实现互连,再把中介层连接到封装基板。芯片之间在水平方向上仍是并排的,但互连密度实现了数量级的提升。

3D:芯片在垂直方向上直接堆叠,通过贯穿硅片的垂直通道(TSV)或直接的铜-铜键合实现层间互连,把互连路径压缩到很短。

一个形象的类比:2.5D像在一块高密度"电路板"上建起一片别墅群,各家之间用高速路网连接;3D则像建摩天大楼,楼上楼下只隔一层楼板,通勤距离很短。

这场跃迁的直接受益者,是AI算力。今天训练大模型的GPU,之所以能有惊人的算力,离不开HBM(高带宽存储器)通过3D堆叠与2.5D中介层,与计算芯片紧密耦合在一起。没有先进封装,就没有现代AI芯片。

二、 电子展浅谈2.5D封装:硅中介层上的"高密度互连网络"

2.5D封装的核心,是那层被称为中介层(Interposer)的转接板。

硅中介层(Si Interposer)的技术内核

中介层通常是一块无源(或有源)的硅片,内部通过半导体工艺制造出TSV(硅通孔)与多层金属布线(RDL)。它的作用有三:

一是密度转换。芯片的I/O间距可能是几十微米,而封装基板的布线间距是上百微米。中介层充当"适配器",把芯片的细间距I/O"扇出"到基板能承接的粗间距上。

二是高速互连。多颗芯片(如GPU与多颗HBM)并排坐在中介层上,通过中介层内部很细的金属线直接连接。由于互连在硅上完成,线宽线距可以做到亚微米级,远超有机基板,从而实现非常高的带宽与非常低的延迟。

三是异构集成。不同工艺、不同功能的芯片——逻辑芯片、存储芯片、模拟芯片——可以放在同一中介层上,像搭积木一样组合成系统。

从全硅中介层到"桥接"的演进

传统的CoWoS(Chip-on-Wafer-on-Substrate)采用一整块覆盖所有芯片的大尺寸硅中介层。这种方案性能很好,但成本非常高——大尺寸硅中介层本身就要用晶圆工艺制造,且面积受限于光罩尺寸。

为了降本,产业演化出两种更经济的路线:

一是硅桥(Silicon Bridge)方案。不再用一整块大中介层,而是在芯片间需要高速互连的"局部区域"埋入小块硅桥(如Intel的EMIB、台积电的Local Silicon Interconnect)。只在关键位置用硅,其余用有机基板,大幅降低成本。

二是有机中介层与RDL路线。用有机材料或扇出封装的RDL层替代硅中介层,通过mSAP等工艺实现较细的线路。虽然密度不如硅,但成本优势明显,在中低端2.5D场景中具备竞争力。

三、 电子展浅谈3D封装:垂直堆叠的"高密度集成"

如果说2.5D是"并排坐",3D就是"叠罗汉"。它在垂直方向上把芯片一层层堆起来,带来三个革命性的变化:

互连路径非常短。传统平面互连,信号要走几毫米;3D堆叠通过TSV或混合键合,层间互连距离缩短到几十甚至几微米。路径短意味着延迟低、功耗小、带宽高。

集成密度非常高。同样的封装面积,3D可以容纳多倍的晶体管。HBM就是非常典型的例子——把8层、12层甚至更多DRAM die垂直堆叠,在很小的占板面积内提供巨大的容量与带宽。

异质集成非常彻底。逻辑芯片、存储芯片、传感器可以用适合的工艺分别制造,再从垂直方向堆叠集成,实现"工艺无关"的系统级整合。

3D封装的两条技术路线

路线一:TSV + 微凸点(Micro Bump)。这是目前量产非常成熟的方案。在芯片上打TSV孔,填充铜实现垂直导通;芯片之间用微小的焊球(微凸点)连接。HBM、3D NAND、部分3D SoC都采用这一路线。微凸点的间距(pitch)目前主流在几十微米量级,正朝着更小演进。

路线二:混合键合(Hybrid Bonding)。这是下一代3D封装的关键技术。它去掉了焊球,直接让两片晶圆的铜-铜接触面在原子级别键合,同时介质层(如SiO₂)也直接键合。这种"无凸点"方案把互连间距从几十微米推进到微米甚至亚微米级,互连密度提升一个数量级,同时降低了电阻与功耗。目前混合键合已在CIS(图像传感器)、部分3D NAND与先进逻辑堆叠中量产,是通向HBM4及以上、以及真正3D SoC的必由之路。

四、 电子展浅谈五大关键技术:撑起先进封装的"四梁八柱"

2.5D/3D封装不是单一技术,而是一整套技术体系。以下五项构成了它的核心:

1. TSV(硅通孔)技术

TSV是3D封装的"垂直电梯"。它通过深孔刻蚀在硅片上打出高深宽比的通孔,再依次沉积绝缘层、阻挡层、种子层,随后电镀铜填充,并通过晶圆减薄与背面工艺把铜露出。

技术难点在于:深宽比(孔越深越细越难填)、填充无空洞(空洞会导致断路或可靠性问题)、热应力(铜与硅的热膨胀系数差异巨大)、晶圆减薄与拿持(晶圆要减薄到几十微米,非常容易碎裂)。

2. RDL(重布线层)技术

RDL是在芯片表面或中介层上重新"画"出的金属布线层,把芯片原本的I/O重新分布到需要的位置。在扇出封装(Fan-out)中,RDL是核心;在2.5D中介层中,RDL负责芯片间的高密度互连。

RDL的线宽线距已进入2μm甚至更细的区间,依赖半加成法(mSAP/SAP)、高精度光刻与电镀工艺。线越细,对缺陷、对位与均匀性的控制就越苛刻。

3. 微凸点与混合键合

微凸点是当前的量产主力,用微小的焊球(含铜柱+锡帽)实现芯片间连接。挑战在于间距微缩时的桥连、润湿与可靠性。

混合键合是未来的方向,要求晶圆表面达到纳米级平整度与超洁净度——任何一颗微小颗粒都会导致键合失败或空洞。它涉及超精密CMP(化学机械抛光)、表面活化、高精度对准(对准精度要求达到百纳米级)与退火工艺。混合键合的成熟,将把3D封装推向真正的"晶圆级集成"。

4. 热管理与应力控制

这是先进封装很容易被低估、却非常致命的挑战。

热问题:多颗高功耗芯片堆叠在一起,热量被"闷"在内部,散热路径非常长。HBM与GPU紧邻,热量互相"烧烤"。解决方案包括:硅通孔的热传导优化、微流道液冷、高导热界面材料(TIM)、以及封装级的散热盖与均热板设计。

应力问题:硅、铜、介质材料、塑封料的热膨胀系数(CTE)各不相同。在回流焊的高温与后续的温度循环中,不同材料膨胀收缩不一致,会产生巨大的热机械应力,导致翘曲(warpage)、分层、甚至芯片开裂。控制翘曲、优化材料匹配、设计应力缓冲结构,是量产良率的关键。

5. 检测、量测与可靠性验证

先进封装的"隐藏焊点"非常多——BGA底部、微凸点内部、TSV孔中、键合界面——传统目检完全失效。必须依赖:

AXI(X光检测):透视内部焊点、TSV填充与空洞;

超声扫描(SAM):检测分层与界面空洞;

红外热成像:分析散热路径与热点;

电性能测试与BIST:验证互连的连通性与信号完整性。

同时,可靠性验证(温度循环、湿热、跌落、老化)必须贯穿产品全生命周期,尤其在车规与AI服务器这类"零容忍"场景中。

五、 电子展浅谈应用落地:AI、HBM与Chiplet的三角共振

先进封装不是实验室里的技术秀,它已经在三大场景中创造了真实的价值:

AI算力与HBM:这是当前很强的驱动力。GPU/ASIC通过2.5D中介层与多颗HBM堆叠互连,实现了TB/s级的内存带宽。HBM每一代(HBM3→HBM3E→HBM4)的容量与带宽跃升,都直接依赖3D堆叠层数增加与键合技术进步。可以说,AI算力的天花板,很大程度上被先进封装的高度所决定。

Chiplet(芯粒)异构集成:把一颗大SoC拆成多颗小芯粒,分别用非常适合的工艺制造(如计算芯粒用先进制程,I/O与模拟芯粒用成熟制程),再通过2.5D/3D封装集成。这既提升了良率、降低了成本,也让系统配置更灵活。Chiplet的普及,让先进封装从"后道工序"变成了"系统架构的一部分"。

移动与边缘设备:在手机、可穿戴、AR/VR中,封装的体积与功耗是核心约束。扇出封装、3D堆叠的存储器与传感器集成,让设备在非常小的体积内实现高性能,同时延长续航。

六、 电子展浅谈产业格局与未来挑战

当前,先进封装的竞争格局正在重塑:

晶圆代工厂强势主导。台积电的CoWoS、SoIC,三星的I-Cube、X-Cube,Intel的EMIB、Foveros——代工厂凭借前道工艺能力与芯片设计的协同优势,占据了先进封装的技术高地。

传统封测厂(OSAT)加速追赶。在扇出封装、SiP、部分2.5D方案中寻找差异化空间,并与代工厂形成竞合关系。

设备与材料成为瓶颈。TSV刻蚀/电镀设备、混合键合机、临时键合/解键合设备、高精度贴片机、以及高端载板与特种材料,是决定产能与良率的关键,也是国产化非常迫切的环节。

未来仍需跨越的挑战:

成本:先进封装的成本仍高,如何在性能与成本间取得平衡,决定其能否从高端走向普及;

标准:Chiplet互连(如UCIe)的标准化与生态开放,决定异构集成的广度;

散热与供电:随着堆叠层数与功耗持续攀升,热管理与供电架构成为新的瓶颈;

玻璃基板、光互连等新材料与新路径,正在孕育下一代封装的雏形。

结语:封装正在重新定义芯片

回望半导体产业史,封装曾长期被视为"芯片造好之后的包装"。但2.5D/3D先进封装的崛起,彻底改写了这一认知。

今天,封装不再只是保护与连接的环节,而是决定系统性能、带宽、功耗与形态的核心变量。当平面的路走到尽头,产业选择了向上生长——在硅中介层上建起高速互连的城市,在垂直方向上叠起存储与算力的摩天楼。

这是一场静默却深刻的"维度革命"。它不制造晶体管,却决定了晶体管能发挥多大的威力;它不设计架构,却决定了架构能否被物理实现。

在后摩尔时代,谁掌握了2.5D/3D先进封装的核心技术——TSV、RDL、混合键合、热管理与检测——谁就掌握了继续推动算力增长的钥匙。而这场关于"维度"的竞赛,才刚刚开始。

文章来源:公众号  冬日可爱