深圳电子展
2026年10月27-29日
深圳国际会展中心(宝安)

重磅!泰瑞达与昂科技术达成战略合作,共握中国存储测试产业新变量

2025年6月17日,半导体测试领域迎来里程碑时刻!全球半导体自动测试设备领军企业泰瑞达(TERADYNE)与昂科技术(ACROVIEW)正式签署战略合作协议,签约仪式在位于深圳市南山区科技园的汉京金融中心7楼的昂科技术总部圆满完成。双方高层领导、半导体行业协会领导、重要客户代表及昂科员工齐聚一堂,共同见证这一具有深远意义的合作启动。

随着AI、5G、IoT、汽车芯片等行业的快速发展,半导体设计、开发和测试进入发展的关键时期,且在技术发展和人才流动的大环境下,半导体产业格局正在历经重大结构调整。先进封装和异构集成的复杂技术所需求的可靠性,优选测试资源、先进测试方法以及全栈式测试设备,已然成为客户提升核心竞争力的关键要素。

 

泰瑞达与昂科技术的深入合作,将共同为中国存储半导体产业链提供更快速、完整且具成本效益的测试解决方案。此次合作将充分发挥双方优势,使测试方案的应用范围全面延伸至存储芯片的设计、制造、封装测试到模块生产全流程,满足中国客户全方位的需求。泰瑞达通过战略合作伙伴昂科的支持,能更完整地覆盖并扩展直销团队的销售服务范围,全面满足不同规模、不同需求的客户,确保中国半导体企业都能获得适配的测试支持。

 

昂科通过战略合作伙伴泰瑞达的支持,构建了芯片测试全周期的产品和服务,覆盖从PSV(硅后验证),CP(晶圆测试),FT(封装测试),SLT(系统级测试),BI(老化测试)直至Programming(烧录)的全系列解决方案,帮助客户产品快速上市和快速盈利的同时,提升测试技术水平,提升核心竞争力。

 

泰瑞达亚太区销售副总裁Richard Hsieh先生表示:

Magnum测试平台以其卓越的性能成为存储测试领域的领导者。它作为单一平台,即可覆盖所有存储测试需求,凭借更高的同测数量、更短的测试时间、更高的测试精度以提升良率、以及更低的总体生产成本,为客户带来显著的竞争优势。”Richard先生进一步强调:“泰瑞达与昂科的合作是优势互补的强强联合。通过整合双方在测试设备、接口技术、本地化服务与市场覆盖方面的专长,我们能共同为客户提供更快速响应、更完整覆盖、更具成本效益的完整测试方案。这将帮助客户在激烈的市场竞争中抢占量产先机,赢得更高的市场份额,并创造更丰厚的利润。

泰瑞达亚太区销售副总裁Richard Hsieh先生

 

昂科技术CEO黄斌华总结分享:

我们与全球顶尖的合作伙伴一道服务本地优秀企业,共建生态,目标是提升全行业的测试水平,提升产品品质,为客户提升效益做出贡献。与泰瑞达的携手,是昂科构建“国际领先测试技术+本土产品方案创新”的存储全栈式测试解决方案商业范式的实践,是践行“以客户为中心”的服务精神体现。昂科技术开发的V系列全球首个全自动老化测试机(Auto Burn-In)以及全球首个堆栈式SLT产品,极大地提升了客户老化测试和系统级测试的效率和覆盖率,尤其在LPDDR5、DDR5、HBM、NAND、SSD、UFS测试的应用中表现优异。我们将与泰瑞达一起,通过ATE与ABI、SLT测试方案的协同,解决客户在技术、成本、质量上的痛点,为存储芯片客户创造高价值。

昂科技术CEO黄斌华先生

当前半导体市场竞争日益激烈,唯有持续提升技术附加价值与服务能力,企业方能实现稳健发展与永续经营。泰瑞达与昂科的合作正是致力于此,助力中国存储产业客户提升核心竞争力。

 

业内人士认为,这一合作或将成为半导体测试领域跨国协作的典范,其后续发展值得持续关注。签约仪式后,与会嘉宾参观了昂科技术新落成的办公区,双方表示将携手推动存储测试技术革新,助力全球半导体产业发展。

 

昂科技术简介

 

昂科技术是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业,公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案,赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI(Auto Burn-In)系统极大的提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、BI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案,我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合,为客户在市场竞争中取得领先创造价值。

 

 

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